廣東艾思荔是一家從事開發(fā)、設(shè)計和生產(chǎn)冷熱沖擊試驗機,冷熱沖擊試驗箱。我們的宗旨是為客戶提供具國際規(guī)要求的可靠度環(huán)境檢測設(shè)備與其相關(guān)的試驗技術(shù)?？蛻舢a(chǎn)業(yè)遍及于電工電子、半導(dǎo)體、光電、通訊、航天、機械、實驗室、汽車等科技產(chǎn)業(yè)。從產(chǎn)品研發(fā)到售后服務(wù)，每一個環(huán)節(jié)本著客戶至上，質(zhì)量的服務(wù)宗旨，充分利用多年從事環(huán)境檢測工程與可靠性工程的技術(shù)，為客戶提供耐用、美觀的檢測設(shè)備，確保產(chǎn)品性能穩(wěn)定及設(shè)備的壽命超出客戶的期望。以助客戶提升質(zhì)量，降低成本，增加市場競爭力。我們關(guān)注客戶提出的所有有關(guān)環(huán)境試驗的問題，根據(jù)客戶的不同要求，為用戶提供具有優(yōu)性的產(chǎn)品和服務(wù)，客戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，原與您攜手共創(chuàng)輝煌。
我們研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的設(shè)備有冷熱沖擊試驗機,冷熱沖擊試驗箱,led冷熱沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機廠家,冷熱沖擊試驗儀等等。
冷熱沖擊試驗箱符合標準:
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
滿足標準IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
GB/T2423.1-2001低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001高溫試驗方法

冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品特性:
1．產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝、選材考究。
2．設(shè)備分為高溫室、低溫室、測試室三部分，采特之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗時待測物完全靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷、熱溫度導(dǎo)入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。
3．采用觸控式液晶（LCD）顯示人機介面控制器，的計測裝置，操作簡單，學(xué)習(xí)容易，穩(wěn)定可靠，中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
4．具96個試驗規(guī)范立設(shè)定，沖擊時間999小時59大分鐘，循環(huán)周期1～999次可設(shè)定，可實現(xiàn)制冷機自動運轉(zhuǎn)，大程度上實現(xiàn)自動化，減輕操作人員工作量，可在任意時間自動啟動﹑停止工作運行。
5．箱體左側(cè)具Ø50mm測試孔1個，可供外加電源負載配線測試部件。
冷熱沖擊試驗箱控制系統(tǒng):
高溫沖擊3箱：Rt℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN  RT℃~ +150℃/5 MIN
低溫沖擊3箱：RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN  RT℃~ -65℃/5 MIN
高溫沖擊2箱：-40℃~ +150℃/5 MIN  -55℃~ +150℃/5 MIN  -65℃~ +150℃/5 MIN
低溫沖擊2箱：+150℃~ --65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN  +150℃~ -65℃/5 MIN
預(yù)熱時間：25MIN  30MIN  45MIN  40MIN  50MIN  40MIN   50MIN
預(yù)冷時間：60MIN  75MIN  80MIN  85MIN  85MIN  90MIN   100MIN
預(yù)熱溫度：+ 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃  + 60℃ ~ + 200℃
預(yù)冷溫度: - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃  - 10℃ ~ - 70℃
高溫沖擊: + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃  + 60℃ ~ + 150℃
低溫沖擊：-10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃  -10℃ ~ - 65℃
溫度分布均勻度：±2.00℃ 以內(nèi)（UNDER ±2.00℃）
仿真負載（KG）：2.5  2.5  5  5  5  5   10.0

冷熱沖擊試驗箱產(chǎn)品型號及技術(shù)參數(shù)：(W×H×D) (mm)
TS-49 內(nèi)箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440
TS-80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440
TS-100 內(nèi)箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
TS-150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
TS-250 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
TS-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
溫度范圍：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃
電 源：∮5W AC38O±10% 50/60HZ
高溫室：預(yù)熱溫度范圍，RT+20℃~200℃
升溫時間：+20℃~+200℃約30min
低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃
降溫時間：+20℃~-80℃約80min
實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃

冷熱沖擊試驗箱性能參數(shù)系統(tǒng):
1．采用進口微電腦大型液晶LCD（320 x 240 Dots）中英文顯示控制系統(tǒng)。
2．高程序記憶容量，可設(shè)定儲存 120 組程序，大循環(huán)設(shè)定 9999 Cycles，每段時間大設(shè)定 999 Hrs 59Mins。
3．具有RS-232通訊界面及連接軟件，可于電腦熒幕上設(shè)計程序、收集測試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行、可實現(xiàn)遠程控制。
4．可立設(shè)定高溫、低溫、及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇二槽式或二槽式之功能，具備高低溫試驗箱的功能。
5．可在預(yù)約開機時間控制中自動提前預(yù)熱、預(yù)冷待機，并可選擇起始位置，由高溫或低溫開始循環(huán)或溫度沖擊，另具備設(shè)定循環(huán)次數(shù)擴自動除霜功能。
6．出風(fēng)口與回風(fēng)口傳感器檢知控制，風(fēng)向柵門機構(gòu)切換時間為10s內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時間為5min鐘內(nèi)完成。
7．具有溫度線懷直流信號輸出到溫度記錄器，以了解測試條件之狀態(tài)，進而提高檢測信賴度。
8．運轉(zhuǎn)中發(fā)行異常狀況，熒幕上即刻自動顯示故障原因及提供排除方法，并于發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)時，具有緊急停機裝置。
9．冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，采用進口壓縮機組，并使用環(huán)保冷媒。
冷熱沖擊試驗箱箱主要有三種方式：
1、三箱式冷熱沖擊(氣態(tài))：試驗設(shè)備有三個箱體(高溫區(qū)、常溫區(qū)、低溫區(qū))，測試過程中樣品處于常溫區(qū)不動，只是通過高溫區(qū)與常溫區(qū)的風(fēng)門，低溫區(qū)與常溫區(qū)的開關(guān)來達到冷熱沖擊的效果。
2、兩箱式?jīng)_擊(液態(tài))：試驗設(shè)備有兩個箱體(高溫區(qū)、低溫區(qū))，高溫區(qū)與低溫區(qū)分別盛入硅油，樣品放在一個吊籃中，通過吊籃的高溫區(qū)和低溫區(qū)的移動達到冷熱沖擊的效果。
3、兩箱式冷熱沖擊試驗(氣態(tài))：試驗設(shè)備有兩個箱體(高溫區(qū)、低溫區(qū))，樣品放在一個吊籃中，通過吊籃在高溫區(qū)和低溫區(qū)的移動達到冷熱沖擊的效果。
冷熱沖擊試驗箱操作說明
對于冷熱沖擊試驗箱而言，操作無疑是非常重要的，因為在使用過程中的許多故障都是因為錯誤操作而引起的，嚴重的可能還會給設(shè)備帶來無法換回的傷害。為了避免這類情況的出現(xiàn)，我們在使用之前一定要仔細閱讀設(shè)備的操作說明。
1、不要用水噴淋、沖洗設(shè)備，也不要將設(shè)備放置在潮濕、易濺上水的地方，以免影響設(shè)備的電氣絕緣性能。
2、不要讓箱體壓住電源線或人為踩踏電源線。
3、當電源線出現(xiàn)破損或插頭出現(xiàn)磨損時切勿使用。電源線磨損或損壞，須由電工人員根據(jù)設(shè)備標牌供電要求更換。
4、非特制設(shè)備內(nèi)，嚴禁放入易燃、易爆的危險品，及強腐蝕性的酸、堿等。
5、本產(chǎn)品為試驗設(shè)備，按國家標準的規(guī)定，不能用于設(shè)備功能范圍外的其他用途
6、在設(shè)備附近，切勿存放或使用汽油及其它易燃物品，以免引起火災(zāi)。
7、為保證安全，建議不要在設(shè)備臺面上放置電源插座、穩(wěn)壓電源等電器；也不要在設(shè)備內(nèi)部使用電器（推薦型號除外），以免發(fā)生電磁干擾或其他意外。
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